本部分是《半导体器件分立器件》系列国家标准之一。下面列出本系列已有的和正在制定的国家标准：
——GB/T 4589.1-2006《半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范》；
——GB/T 12560-1999《半导体器件 分立器件分规范》；
——GB/T 17573-1998《半导体器件分立器件和集成电路第1部分：总则》；
——GB/T 4023-1997《半导体器件 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管》；
——GB/T 6571-1995《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》；
——GB/T 20516-2006《半导体器件分立器件第4部分：微波器件》；
——GB/T 21039.1-2007《半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范》；
——GB/T 15291 1994《半导体器件 第6部分：晶闸管》；
——GB/T 4587 1994《半导体器件分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》；
——GB/T 4586 1994《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》；
——《半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极型晶体管》。
本部分等同采用IEc 60747-4-1：2000《半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范》（英文版）。
为了便于使用，本部分作了如下编辑性修改：
a） 用小数点“.”代替作为小数点的逗号“，”；
b） 删除国际标准的前言；
c） 第7章订货资料“……3.7规定的质量评定类别……”和“……3.6规定的筛选顺序……”原文中章条号编辑性错误，应为“……3.8规定的质量评定类别……”和“……3.7规定的筛选顺序……”；
d） 第8章试验条件和检验要求“……，引用或重新规定GB/T 12560-1999中3.8的数值。”原文中章条号编辑性错误，应为“……，引用或重新规定GB/T 12560-1999中3.7的数值。”；
e） C3分组 检验要求极限中“》无损坏”，原文编辑性错误，应为“无损坏”；
f） 经比较本部分C8分组的引用标准IEC60747 8 1附录I在内容上与本部分附录A一致，因此本部分中C8分组的引用标准改为本部分附录A。